產(chǎn)品列表 / products
涂層測(cè)厚儀可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
名稱
鐵基/非鐵基涂層測(cè)厚儀用磁性傳感器測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:
磁性測(cè)厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測(cè)量精度高
渦流測(cè)厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量.此種方法較磁性測(cè)厚法精度低
超聲波測(cè)厚法
目前國內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴\測(cè)量精度也不高.
電解測(cè)厚法
此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測(cè)量起來較其他幾種麻煩
放射測(cè)厚法
此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合.
國內(nèi)目前使用zui為普遍的方法
國內(nèi)目前使用zui為普遍的是第1\2兩種方法。
例1
鐵基涂層測(cè)厚儀兩用涂層測(cè)厚儀 儀器由德國生產(chǎn),集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能,可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
如:
* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
* 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。
* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
儀器符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
儀器特點(diǎn)
* 采用雙功能內(nèi)置式探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行測(cè)量。
* 符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。
* 采用手機(jī)菜單式功能選擇方式,操作十分簡(jiǎn)便。
* 可設(shè)定上下限值,測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí),儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
* 穩(wěn)定性*,通常不必校正便可長(zhǎng)期使用。
常規(guī)涂層測(cè)厚儀的原理
對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。
覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。 隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測(cè)厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
測(cè)量原理與儀器
磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀
*磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用zui廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。 這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無須校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。
磁感應(yīng)測(cè)量原理
采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。 磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
電渦流測(cè)量原理
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。 采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適
影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素
影響因素的有關(guān)說明
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b 基體金屬電性質(zhì)
電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
]
c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。 d 邊緣效應(yīng) 本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f 試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g 磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h 附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
j 測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
a 基體金屬特性
對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。 c 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f 表面清潔度
測(cè)量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)
涂層測(cè)厚儀中F,N以及FN的區(qū)別
F代表ferrous 鐵磁性基體,F(xiàn)型的涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理, 來測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。 N代表Non- ferrous非鐵磁性基體,N型的涂層測(cè)厚儀采用電渦流原理;來測(cè)量用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。 FN型的涂層測(cè)厚儀既采用電磁感應(yīng)原理,又采用采用電渦流原理,是F型和N型的二合一型涂層測(cè)厚儀?!?/p>
具體影響因數(shù)
涂層測(cè)厚儀在測(cè)量物體時(shí),除測(cè)量方法外,還會(huì)有其他因數(shù)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果有所偏差,具體影響因數(shù)請(qǐng)看下表.
測(cè)量方式法 | 磁性測(cè)量 | 渦流測(cè)量 |
基體金屬磁性質(zhì) | * |
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基體金屬電性質(zhì) |
| * |
邊緣效應(yīng) | * | * |
曲率 | * | * |
試件粗糙度 | * | * |
磁場(chǎng) | * |
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附著物質(zhì) | * | * |
測(cè)頭壓力 | * | * |
測(cè)頭取向 | * | * |
基體金屬厚度 | * | * |
試件的形狀 | * | * |
涂層測(cè)儀除了可以測(cè)量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層,亦可以測(cè)量金屬電鍍的鍍層測(cè)厚儀,因此,涂層測(cè)厚儀,通常也稱為涂鍍層測(cè)厚儀.
磁性涂層測(cè)厚技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和檢定規(guī)程
標(biāo)準(zhǔn): 國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956-2003《磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性法》 標(biāo)準(zhǔn)ISO 2178-1982 檢定規(guī)程: JJG818-2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x》
磁性金屬非磁性
哪些金屬是磁性金屬,哪些金屬是非磁性金屬
磁性金屬只有三類 1. 鋼鐵 2. 鎳金屬 3.部分不銹鋼(馬氏體或鐵素體型:如404B,430、420、410等) 除了上述三種金屬外的其他金屬均為非磁性金屬,如銅、錫、鉛、及奧氏體型不銹鋼(如404B,430、420、410)
哪類不銹鋼是磁性 哪類是非磁性
人們常以為磁鐵吸附不銹鋼材,驗(yàn)證其優(yōu)劣和真?zhèn)?,不吸無磁,認(rèn)為是好的,貨真價(jià)實(shí);吸者有磁性,則認(rèn)為是冒牌假貨。其實(shí),這是一種極其片面的、不切實(shí)的錯(cuò)誤的辨別方法。 不銹鋼的種類繁多,常溫下按組織結(jié)構(gòu)可分為幾類: 1.奧氏體型:如304、321、316、310等; 是無磁或弱磁性 2.馬氏體或鐵素體型:如404B,430、420、410等;是有磁性的。 通常用作裝飾管板的不銹鋼多數(shù)是奧氏體型的304材質(zhì),一般來講是無磁或弱磁的,但因冶煉造成化學(xué)成分波動(dòng)或加工狀態(tài)不同也可能出現(xiàn)磁性,但這不能認(rèn)為是冒牌或不合格,這是什么原因呢? 上面提到奧氏體是無磁或弱磁性,而馬氏體或鐵素體是帶磁性的,由于冶煉時(shí)成分偏析或熱處理不當(dāng),會(huì)造成奧氏體304不銹鋼中少量馬氏體或鐵素體組織。這樣,304不銹鋼中就會(huì)帶有微弱的磁性。 另外,304不銹鋼經(jīng)過冷加工,組織結(jié)構(gòu)也會(huì)向馬氏體轉(zhuǎn)化,冷加工變形度越大,馬氏體轉(zhuǎn)化越多,鋼的磁性也越大。如同一批號(hào)的鋼帶,生產(chǎn)Φ76管,無明顯磁感,生產(chǎn)Φ9.5管。因泠彎變形較大磁感就明顯一些,生產(chǎn)方矩形管因變形量比圓管大,特別是折角部分,變形更激烈磁性更明顯。 要想*消除上述原因造成的304鋼的磁性,可通過高溫固溶處理開恢復(fù)穩(wěn)定奧氏體組織,從而消去磁性。 特別要提出的是,因上面原因造成的304不銹鋼的磁性,與其他材質(zhì)的不銹鋼,如430、碳鋼的磁性*不是同一級(jí)別的,也就是說304鋼的磁性始終顯示的是弱磁性。 這就告訴我們,如果不銹鋼帶弱磁性或*不帶磁性,應(yīng)判別為304或316材質(zhì);如果與碳鋼的磁性一樣,顯示出強(qiáng)磁性,因判別為不是304材
涂層測(cè)厚儀的技術(shù)
目前,國內(nèi)國外不管是出名的品牌還是一般的生產(chǎn)廠家,其測(cè)厚儀的操作方法均需要如下步驟:
1調(diào)零,即在特定的零板上調(diào)零,或在需要測(cè)量的原基材上調(diào)零;
2根據(jù)測(cè)量產(chǎn)品的不同測(cè)量范圍,用適當(dāng)?shù)臏y(cè)試片調(diào)值,以減少測(cè)量上的誤差。 這種方法一般情況下,儀器新購使用時(shí)還是沒有什么問題的,只是比較繁瑣一點(diǎn)。 但當(dāng)探頭使用一段時(shí)間后,問題就出來了。操作中我們的儀器測(cè)量精度大大減小了。 很難把握。原因在于產(chǎn)品的原理,這是一個(gè)致命的缺陷,即探頭是使用一根磁鐵繞線圈。 通上電流后產(chǎn)生磁場(chǎng),這個(gè)磁場(chǎng)是不規(guī)則的。 還好,現(xiàn)在有一款新型的涂層測(cè)厚儀,它采用的是的磁感技術(shù)。也就是我們知道的 霍爾效應(yīng), 霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。通過研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系,測(cè)量電磁鐵磁場(chǎng)、磁導(dǎo)率、研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系 , 霍爾發(fā)現(xiàn)這個(gè)電位差 UH與電流強(qiáng)度 I H 成正比,與磁感應(yīng)強(qiáng)度 B 成正比,與薄片的厚度 d 成反比。 這個(gè)磁場(chǎng)是就變成規(guī)則的。該原理運(yùn)用在涂層測(cè)厚儀上面就無需再調(diào)測(cè)試片了。特別是測(cè)量圓弧的或凹面的產(chǎn)品時(shí),使用更為簡(jiǎn)單和方便了。 EPk涂層測(cè)厚儀和電火花檢測(cè)儀 MikroTest系列涂層測(cè)厚儀 一、 MikroTest涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品名錄 麥考特測(cè)厚儀根據(jù)量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,zui小的測(cè)量范圍是0-100微米,zui大的是7.5-20毫米;又根據(jù)表現(xiàn)形式分為圓盤指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7,F(xiàn)7等);還根據(jù)外觀的不同分為香蕉形的(俗稱)和筆式測(cè)厚儀,特別要注意的是,EPK還有二種特殊規(guī)格的麥考特測(cè)厚儀:即測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳的Ni50,Ni100和測(cè)量鐵基底上鍍鎳的NiFe50。 二、 MikroTest涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理及應(yīng)用 所有MikroTest涂層測(cè)厚儀都是依據(jù)磁吸力的測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。測(cè)量磁鋼與磁性基體間的磁吸力與盤狀彈簧的彈力平衡,盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度有直接關(guān)系。 MikroTest涂層測(cè)厚儀中G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20型主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性涂鍍層;Ni50和Ni100主要用于測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳;NiFe50主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的鍍鎳層。 三、 MikroTest涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
型 號(hào) | 測(cè)量范圍 | 讀 值 精 度 ± | zui小測(cè)量區(qū)直徑mm | 基體zui小厚度mm | 適 用 場(chǎng)合 |
Mikrotest 6 G | 0-100um | 1um或5%讀值 | 20mm | 0.5 | 鋼、鐵基體上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層等 |
Mikrotest 6 F | 0-1000um | 3um或5%讀值 | 30mm | 0.5 | |
Mikrotest 6 S3 | 0.2-3mm | 5%讀值 | 30mm | 1.0 | |
Mikrotest 6 S5 | 0.5-5mm | 5%讀值 | 50mm | 1.0 | |
Mikrotest 6 S10 | 2.5-10mm | 5%讀值 | 50mm | 2.0 | |
Mikrotest 6 S20 | 7.5-20mm | 5%讀值 | 100mm | 7.0 | |
Mikrotest 6 Ni50 | 0-50um | 1um或5%讀值 | 15mm |
| 非鐵基體上鍍鎳層 |
Mikrotest 6 Ni100 | 0-100um | 1um或5%讀值 | 15mm |
| |
Mikrotest NiFe50 | 0-50um | 2um或8%讀值 | 20mm | 0.5 | 鋼鐵基體上電鍍鎳 |
Mikrotest 7 G | 0-300um | 2um或3%讀值 | 20mm | 0.5 | 鋼、鐵基體上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層等 |
Mikrotest 7 F | 0-1500um | 5um或3%讀值 | 30mm | 0.5 | |
Mikrotest 7 S5 | 0.5-5mm | 4%讀值 | 50mm | 1.0 | |
Mikrotest 7 S15 | 3.0-15mm | 4%讀值 | 100mm | 7.0 |
注:表中鋼鐵基體均指未硬化鋼鐵(C15到C45) 四、MikroTest涂層測(cè)厚儀使用過程中注意事項(xiàng) 推動(dòng)指輪時(shí),不要觸動(dòng)按鈕; 盡量保證測(cè)量點(diǎn)與兩支撐點(diǎn)在同一平面上; 在粗糙表面測(cè)量時(shí),讀數(shù)將偏大。要多次測(cè)量求取平均值; 測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí),一定要利用儀器測(cè)嘴的V型口; 測(cè)量含碳量高或經(jīng)過熱處理后的硬質(zhì)鋼上涂層時(shí),測(cè)值會(huì)偏大; 基體厚度小于臨界厚度時(shí),測(cè)值會(huì)偏大; 在凸凹測(cè)量會(huì)對(duì)測(cè)值有影響,在凸面時(shí)測(cè)值偏大、凹面時(shí)測(cè)值偏小; 五、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的維護(hù)與保養(yǎng) 保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離*磁鐵或電磁鐵,遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng); 切勿猛烈碰撞 測(cè)厚儀使用完后指輪一定要反時(shí)針旋轉(zhuǎn)到二分之一刻度以上的位置再放置在存放點(diǎn); 六、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的維修 針對(duì)轉(zhuǎn)盤停不?。嚎烧{(diào)整卡位銷; 針對(duì)轉(zhuǎn)盤推不動(dòng):檢查驅(qū)動(dòng)發(fā)條、齒輪組; 針對(duì)測(cè)值不準(zhǔn):要用工具調(diào)整彈簧; 齒輪組卡位:清洗齒輪組; 七、 MikroTest涂層測(cè)厚儀的符合標(biāo)準(zhǔn) DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12; BS5411; DIN EN ISO 2178,2361 MiniTest 600 系列涂層測(cè)厚儀(更多介紹:德國epk涂層測(cè)厚儀) 八、 MiniTest 600涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品名錄 MiniTest 600 系列涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品主要包括兩種小類型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每種小類都可分為F型、N型、FN型三種,因此600系列測(cè)厚儀共有6種機(jī)型供選擇。600B型與600型的zui大區(qū)別就是600B是基本型,沒有統(tǒng)計(jì)功能。 九、 MiniTest 600涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理及應(yīng)用 F型測(cè)頭是根據(jù)磁感應(yīng)原理設(shè)計(jì)的,主要測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性涂鍍層。例如:鋁、鉻、銅、鋅、涂料、橡膠等,也適用于合金和硬質(zhì)鋼。 N型測(cè)頭是根據(jù)電渦流原理設(shè)計(jì)的,主要測(cè)量非鐵磁性金屬和奧氏體不銹鋼上的涂層。例如:鋁、銅、鑄鋅件上的涂料、陽極氧化膜、陶瓷等。 FN型測(cè)頭是同時(shí)利用磁感應(yīng)原理和電渦流原理設(shè)計(jì)的,一個(gè)測(cè)頭就可完成F型和N型兩種測(cè)頭所能完成的測(cè)量。 十、 MiniTest 600涂層測(cè)厚儀的測(cè)量中的相關(guān)注意事項(xiàng) 測(cè)量前一定要在表面曲率半徑、基體材料、厚度、測(cè)量面積都與被測(cè)樣本相同的無涂層的底材上較零,才可以保證測(cè)量的性; 每次測(cè)量之間間隔幾秒鐘以保證讀數(shù)的準(zhǔn)確性; 噴砂、噴丸表面上的涂層也可以測(cè)量,但要嚴(yán)格按照說明書的校準(zhǔn)步驟進(jìn)行校準(zhǔn); 不要用力拽或折測(cè)頭線,以免線斷; 嚴(yán)禁測(cè)量表面有酸、堿溶液或潮濕的產(chǎn)品,以免損壞測(cè)頭; 測(cè)量時(shí)測(cè)頭軸線一定要垂直于被測(cè)工作表面; 每次測(cè)量應(yīng)有大于3秒的時(shí)間間隔。 十一、 MiniTest 600涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍 | F型 | 0-3000um |
N型 | 0-2000um | |
FN型(兩用型) | 0-3000um(F),0-2000um(N) | |
允許誤差 | ±2um或±2-4%讀數(shù) | |
zui小曲率半徑 | 5mm(凸)、25mm(凹) | |
zui小測(cè)量面積 | Φ20mm | |
zui小基體厚度 | 0.5mm(F型)、50um(N型) | |
測(cè)量單位 | Um-mils可選 | |
顯示 | 4位LED數(shù)字顯示 | |
校準(zhǔn)方式 | 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、基礎(chǔ)校準(zhǔn)(華豐公司內(nèi)) | |
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) | 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、讀數(shù)個(gè)數(shù)、zui大值、zui小值 | |
接口 | RS-232(不適合B型) | |
電源 | 2節(jié)5號(hào)堿性電池 | |
儀器尺寸 | 64mmX115mmX25mm | |
測(cè)頭尺寸 | Φ15mmX62mm |
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